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Analyses de surveillance pour les composés organiques et inorganiques du laboratoire d'OSIRIS-REx

Cet appel d'offres a pris fin le 3 novembre 2026, 10 h 00 HE

Acheteur
Agence spatiale canadienne (ASC)
Lieu
Québec
Catégorie
Services professionnels
Publié le
19 octobre 2026
Clôture
3 novembre 2026, 10 h 00 HE

Voir l'avis officiel

Description

L'Agence spatiale canadienne (ASC) est reconnue dans le monde entier pour son soutien à l'exploration spatiale. Un exemple de ce soutien est la contribution par l'ASC de l'altimètre laser (OLA) d'OSIRIS-REx à la mission de retour d'échantillons d'astéroïdes OSIRIS-REx. OSIRIS-REx est une mission dirigée par la NASA qui a ramené un échantillon de l'astéroïde Bennu sur Terre en septembre 2023.

En contrepartie de la contribution du Canada à l’OLA, le Canada recevra 4 % en masse de l'échantillon retourné, ce qui marquera le retour des premiers échantillons du Canada provenant d'un autre corps du système solaire et le cinquième pays au monde à avoir des échantillons prélevés dans l'espace.

L'ASC accroît maintenant sa capacité de laboratoire pour se préparer à l'arrivée de sa portion de l'échantillon d'OSIRIS-REx. Plus précisément, l'ASC cherche à surveiller la contamination par les particules et l'air dans ses laboratoires. Cette analyse doit être comparable à celle de la NASA et de la JAXA, qui surveillent également la contamination dans leurs installations de conservation à l'aide de l'analyse VPD-ICP-MS et TD-GC-MS sur plaques de silicium et des tubes absorbants.

Par conséquent, l'Agence spatiale canadienne a besoin d'un service spécialisé pour surveiller la contamination organique et inorganique dans les laboratoires et les salles blanches pour la conservation des astromatériaux.

Les travaux comprendront ce qui suit :

1. Analyse des plaques de silicium par spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif (ICP-MS) par décomposition en phase vapeur (VPD) pour les métaux traces ;

2. Analyse des plaques de silicium par chromatographie en phase gazeuse par thermodesorption et spectrométrie de masse (TD-GC-MS) pour les composés organiques ; et

3. Détermination des matières organiques dans l'air par TD-GC-MS ;

L’entrepreneur doit expédier les plaques de silicium ainsi que le tube absorbant plaques aux personnes précisées à la section 4. L’ASC laissera les plaques et les tubes exposés dans l’environnement pendant 24 heures, en suivant les instructions fournies par l’entrepreneur. L’ASC expédiera ensuite l’équipement d’analyse à l’entrepreneur pour analyse par VPD-ICP-MS et TD-GD-MS. Tous les échantillons doivent être appropriés pour surveiller la contamination dans un environnement de salle blanche de classification ISO 7 ou dans un environnement plus propre. L'analyse des métaux en trace doit comprendre les éléments suivants : Al, As, B, Ba, Be, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Ge, Hf, In, K, La, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Pb, Sb, Sn, Sr, Ta, Ti, W, V, Y, Zn et Zr. Pour la surveillance passive et active des matières organiques, les concentrations de composés organiques pour les plaques et les tubes absorbants préparés doivent être analysées par TD-GC-MS, de plus, les plaques pour les composés organiques doivent suivre la procédure SEMI MF 1982-1103 Method-B.

Un échantillon témoin (un blanc de transport) doit être fourni avec les trousses d'échantillonnage. L'entrepreneur doit inclure tous les accessoires nécessaires à l'échantillonnage, tels que des supports et une pince pour les plaques ou des pompes pour les tubes absorbants. Les salles blanches ont des exigences strictes en matière de matériaux.

Les plaques et les tubes absorbants d'échantillonnage doivent être expédiés de manière à réduire au minimum les contaminants durant le transport de manière à permettre l'analyse de la contamination potentielle d’un environnement extrêmement propre.

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